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El Thermo Scientific Phenom Pharos G2 FEG-SEM lleva el SEM de emisión de campo a su mesa. El Phenom Pharos G2 FEG-SEM superará a muchos SEM de pie en términos de calidad de imagen, al tiempo que ofrece una experiencia de usuario mucho mejor.Laboratorios industriales que hasta ahora no consideraban el SEM como una opción realista, el Phenom Pharos G2 FEG-SEM hace que el rendimiento de FEG sea accesible gracias a su atractivo factor de forma y la breve capacitación requerida. Una carga de muestras ultrarrápida significa un intercambio de muestras rápido, lo que significa una mayor productividad.otros SEM, que terminan estando completamente reservados, el Phenom Pharos G2 FEG-SEM realiza trabajos de imágenes y análisis tan rápidamente que sirve como una herramienta de acceso directo.

El nuevo Phenom Pharos G2 FEG-SEM amplía su rango de voltaje de aceleración hasta 1 kV, para acomodar mejor las muestras aislantes y sensibles al haz, y hasta 20 kV, con una resolución de 2.0 nm que revela los detalles más finos.

Funciones principales

fuente de emisión de campo única

Único entre los SEM de escritorio, el Phenom Pharos G2 FEG-SEM ofrece una fuente de emisión de campo, que garantiza un alto brillo, imágenes nítidas y una corriente de haz estable.

Excelente poder de resolución

El Phenom Pharos G2 FEG-SEM ofrece una resolución de 2.0 nm a 20 kV. Tal rendimiento muestra la forma de nanopartículas, imperfecciones en los recubrimientos u otras características que se perderían en los SEM de tungsteno u otros SEM de sobremesa.

imagen suave

Con un rango de voltaje de hasta 1 kV, el Phenom Pharos G2 FEG-SEM permite obtener imágenes de muestras sensibles al haz, como polímeros, así como muestras aislantes, sin el requisito de aplicar un recubrimiento. Como resultado, la superficie a nanoescalalas características no están oscurecidas.

mayor productividad

Si bien los SEM de FEG tienen la reputación de ser difíciles de acomodar y de operar, el Phenom Pharos G2 FEG-SEM literalmente solo requiere un escritorio y menos de una hora de capacitación. Estudiantes de maestría, visitantes u otros investigadores generalmente no capacitadospara trabajar en FEG SEM de alta gama, puede usar fácilmente el Phenom Pharos G2 FEG-SEM para crear imágenes llamativas.

Un mundo de información

En el Phenom Pharos G2 FEG-SEM, la información morfológica se adquiere junto con la información de composición, gracias a los detectores SE, BSE y EDS integrados en el sistema. Hay disponible una gama de portamuestras para experimentos eléctricos o de temperatura controlada.


Especificaciones

Hoja de estilo para especificaciones de tabla de productos
resolución
  • 2,0 nm SE, 3 nm BSE a 20 kV
  • 10 nm SE a 3 kV
rango de aumento óptico de electrones
  • hasta 2,000,000x
aumento óptico de luz
  • 27 - 160 aumentos
voltajes de aceleración
  • Predeterminado: 5 kV, 10 kV y 15 kV
  • Modo avanzado: rango ajustable entre 1 kV y 20 kV
modos de vacío
  • modo de alto vacío
  • modo de vacío medio
  • Modo de reducción de carga integrado modo de bajo vacío
detector
  • Detector de electrones retrodispersados ​​estándar
  • Detector de espectroscopia de rayos X de dispersión de energía EDS opcional
  • detector de electrones secundario opcional
tamaño de la muestra
  • Hasta 25 mm de diámetro 32 mm opcional
altura de la muestra
  • Hasta 35 mm 100 mm opcional
Hoja de estilo para pestañas de Komodo

Recursos

Los aisladores sin recubrimiento, como esta concha marina, solo se pueden obtener imágenes correctamente con un voltaje de aceleración bajo. A 2 kV imagen de la izquierda, aún se pueden observar artefactos de carga significativos. A 1 kV imagen de la derecha, esos artefactos han desaparecido.
Los materiales sensibles requieren condiciones suaves. Con un voltaje de aceleración de hasta 1 kV, el Phenom Pharos G2 Desktop FEG-SEM toma imágenes de muestras sensibles al haz sin recubrimiento de muestra u otra preparación de muestra. Izquierda: polvo farmacéutico, fotografiado sin daños a 1 kV.Derecha: la misma muestra obtenida a 5 kV, con daños, que ilustra la necesidad de obtener imágenes de bajo kV.

Seminario web: Microscopía electrónica de barrido: selección de la tecnología adecuada para sus necesidades

Este seminario web a pedido se ha diseñado para ayudarlo a decidir qué SEM se adapta mejor a sus necesidades únicas. Presentamos una descripción general de la tecnología SEM de Thermo Fisher Scientific para laboratorios de investigación de múltiples usuarios y nos enfocamos en cómo estas soluciones de amplio rango brindan desempeño,versatilidad, dinámica in situ y tiempo de obtención de resultados más rápido. Mire este seminario web si está interesado en :

  • Cómo se satisfacen las necesidades de las diferentes modalidades de microanálisis EDX, EBSD, WDS, CL, etc..
  • Cómo se caracterizan las muestras en su estado natural sin necesidad de preparación de la muestra.
  • Cómo la nueva automatización avanzada permite a los investigadores ahorrar tiempo y aumentar la productividad.
Los aisladores sin recubrimiento, como esta concha marina, solo se pueden obtener imágenes correctamente con un voltaje de aceleración bajo. A 2 kV imagen de la izquierda, aún se pueden observar artefactos de carga significativos. A 1 kV imagen de la derecha, esos artefactos han desaparecido.
Los materiales sensibles requieren condiciones suaves. Con un voltaje de aceleración de hasta 1 kV, el Phenom Pharos G2 Desktop FEG-SEM toma imágenes de muestras sensibles al haz sin recubrimiento de muestra u otra preparación de muestra. Izquierda: polvo farmacéutico, fotografiado sin daños a 1 kV.Derecha: la misma muestra obtenida a 5 kV, con daños, que ilustra la necesidad de obtener imágenes de bajo kV.

Seminario web: Microscopía electrónica de barrido: selección de la tecnología adecuada para sus necesidades

Este seminario web a pedido se ha diseñado para ayudarlo a decidir qué SEM se adapta mejor a sus necesidades únicas. Presentamos una descripción general de la tecnología SEM de Thermo Fisher Scientific para laboratorios de investigación de múltiples usuarios y nos enfocamos en cómo estas soluciones de amplio rango brindan desempeño,versatilidad, dinámica in situ y tiempo de obtención de resultados más rápido. Mire este seminario web si está interesado en :

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  • Cómo se caracterizan las muestras en su estado natural sin necesidad de preparación de la muestra.
  • Cómo la nueva automatización avanzada permite a los investigadores ahorrar tiempo y aumentar la productividad.

Aplicaciones

Control de proceso mediante microscopía electrónica

La industria moderna exige un alto rendimiento con calidad superior, un equilibrio que se mantiene a través de un control de proceso sólido. Las herramientas SEM y TEM con software de automatización dedicado brindan información rápida y de múltiples escalas para el monitoreo y la mejora del proceso.

Control de calidad y análisis de fallas

El control y la garantía de calidad son esenciales en la industria moderna. Ofrecemos una gama de herramientas EM y de espectroscopia para el análisis multimodal y multiescala de defectos, lo que le permite tomar decisiones fiables e informadas para el control y la mejora del proceso.

Investigación de materiales fundamentales

Los materiales novedosos se investigan a escalas cada vez más pequeñas para lograr el máximo control de sus propiedades físicas y químicas. La microscopía electrónica proporciona a los investigadores información clave sobre una amplia variedad de características de los materiales en la escala micro a nano.


Técnicas

espectroscopia dispersiva de energía

La espectroscopia dispersiva de energía EDS recopila información elemental detallada junto con imágenes de microscopía electrónica, lo que proporciona un contexto de composición crítico para las observaciones EM. Con EDS, la composición química se puede determinar a partir de exploraciones de superficie rápidas y holísticas hasta átomos individuales.

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Análisis elemental EDS

EDS proporciona información de composición vital para las observaciones del microscopio electrónico. En particular, nuestros exclusivos sistemas de detección Super-X y Dual-X agregan opciones para mejorar el rendimiento y / o la sensibilidad, lo que le permite optimizar la adquisición de datos para cumplir con sus prioridades de investigación.

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Tomografía 3D EDS

La investigación de materiales moderna depende cada vez más del análisis a nanoescala en tres dimensiones. La caracterización 3D, incluidos los datos de composición para el contexto químico y estructural completo, es posible con la espectroscopia de rayos X 3D EM y de dispersión de energía.

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Mapeo elemental a escala atómica con EDS

La EDS de resolución atómica proporciona un contexto químico incomparable para el análisis de materiales al diferenciar la identidad elemental de los átomos individuales. Cuando se combina con TEM de alta resolución, es posible observar la organización precisa de los átomos en una muestra.

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Muestras calientes de imágenes

Estudiar materiales en condiciones del mundo real a menudo implica trabajar a altas temperaturas. El comportamiento de los materiales a medida que se recristalizan, funden, deforman o reaccionan en presencia de calor se puede estudiar in situ con microscopía electrónica de barrido o herramientas DualBeam.

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in situ experimentación

La observación directa y en tiempo real de los cambios microestructurales con microscopía electrónica es necesaria para comprender los principios subyacentes de los procesos dinámicos como la recristalización, el crecimiento de granos y la transformación de fase durante el calentamiento, enfriamiento y humectación.

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análisis multiescala

Los materiales novedosos deben analizarse con una resolución cada vez mayor, conservando el contexto más amplio de la muestra. El análisis multiescala permite la correlación de varias herramientas y modalidades de imágenes, como microCT de rayos X, DualBeam, Laser PFIB, SEM y TEM.

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espectroscopia dispersiva de energía

La espectroscopia dispersiva de energía EDS recopila información elemental detallada junto con imágenes de microscopía electrónica, lo que proporciona un contexto de composición crítico para las observaciones EM. Con EDS, la composición química se puede determinar a partir de exploraciones de superficie rápidas y holísticas hasta átomos individuales.

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Análisis elemental EDS

EDS proporciona información de composición vital para las observaciones del microscopio electrónico. En particular, nuestros exclusivos sistemas de detección Super-X y Dual-X agregan opciones para mejorar el rendimiento y / o la sensibilidad, lo que le permite optimizar la adquisición de datos para cumplir con sus prioridades de investigación.

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Tomografía 3D EDS

La investigación de materiales moderna depende cada vez más del análisis a nanoescala en tres dimensiones. La caracterización 3D, incluidos los datos de composición para el contexto químico y estructural completo, es posible con la espectroscopia de rayos X 3D EM y de dispersión de energía.

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Mapeo elemental a escala atómica con EDS

La EDS de resolución atómica proporciona un contexto químico incomparable para el análisis de materiales al diferenciar la identidad elemental de los átomos individuales. Cuando se combina con TEM de alta resolución, es posible observar la organización precisa de los átomos en una muestra.

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Muestras calientes de imágenes

Estudiar materiales en condiciones del mundo real a menudo implica trabajar a altas temperaturas. El comportamiento de los materiales a medida que se recristalizan, funden, deforman o reaccionan en presencia de calor se puede estudiar in situ con microscopía electrónica de barrido o herramientas DualBeam.

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in situ experimentación

La observación directa y en tiempo real de los cambios microestructurales con microscopía electrónica es necesaria para comprender los principios subyacentes de los procesos dinámicos como la recristalización, el crecimiento de granos y la transformación de fase durante el calentamiento, enfriamiento y humectación.

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análisis multiescala

Los materiales novedosos deben analizarse con una resolución cada vez mayor, manteniendo el contexto más amplio de la muestra. El análisis multiescala permite la correlación de varias herramientas y modalidades de imagen, como microCT de rayos X, DualBeam, Laser PFIB, SEM y TEM.

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