El Thermo Scientific Phenom Pharos G2 FEG-SEM lleva el SEM de emisión de campo a su mesa. El Phenom Pharos G2 FEG-SEM superará a muchos SEM de pie en términos de calidad de imagen, al tiempo que ofrece una experiencia de usuario mucho mejor.Laboratorios industriales que hasta ahora no consideraban el SEM como una opción realista, el Phenom Pharos G2 FEG-SEM hace que el rendimiento de FEG sea accesible gracias a su atractivo factor de forma y la breve capacitación requerida. Una carga de muestras ultrarrápida significa un intercambio de muestras rápido, lo que significa una mayor productividad.otros SEM, que terminan estando completamente reservados, el Phenom Pharos G2 FEG-SEM realiza trabajos de imágenes y análisis tan rápidamente que sirve como una herramienta de acceso directo.
El nuevo Phenom Pharos G2 FEG-SEM amplía su rango de voltaje de aceleración hasta 1 kV, para acomodar mejor las muestras aislantes y sensibles al haz, y hasta 20 kV, con una resolución de 2.0 nm que revela los detalles más finos.
Funciones principales
fuente de emisión de campo única
Único entre los SEM de escritorio, el Phenom Pharos G2 FEG-SEM ofrece una fuente de emisión de campo, que garantiza un alto brillo, imágenes nítidas y una corriente de haz estable.
Excelente poder de resolución
El Phenom Pharos G2 FEG-SEM ofrece una resolución de 2.0 nm a 20 kV. Tal rendimiento muestra la forma de nanopartículas, imperfecciones en los recubrimientos u otras características que se perderían en los SEM de tungsteno u otros SEM de sobremesa.
imagen suave
Con un rango de voltaje de hasta 1 kV, el Phenom Pharos G2 FEG-SEM permite obtener imágenes de muestras sensibles al haz, como polímeros, así como muestras aislantes, sin el requisito de aplicar un recubrimiento. Como resultado, la superficie a nanoescalalas características no están oscurecidas.
mayor productividad
Si bien los SEM de FEG tienen la reputación de ser difíciles de acomodar y de operar, el Phenom Pharos G2 FEG-SEM literalmente solo requiere un escritorio y menos de una hora de capacitación. Estudiantes de maestría, visitantes u otros investigadores generalmente no capacitadospara trabajar en FEG SEM de alta gama, puede usar fácilmente el Phenom Pharos G2 FEG-SEM para crear imágenes llamativas.
Un mundo de información
En el Phenom Pharos G2 FEG-SEM, la información morfológica se adquiere junto con la información de composición, gracias a los detectores SE, BSE y EDS integrados en el sistema. Hay disponible una gama de portamuestras para experimentos eléctricos o de temperatura controlada.
| resolución |
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| rango de aumento óptico de electrones |
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| aumento óptico de luz |
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| voltajes de aceleración |
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| modos de vacío |
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| detector |
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| tamaño de la muestra |
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| altura de la muestra |
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Seminario web: Microscopía electrónica de barrido: selección de la tecnología adecuada para sus necesidades
Este seminario web a pedido se ha diseñado para ayudarlo a decidir qué SEM se adapta mejor a sus necesidades únicas. Presentamos una descripción general de la tecnología SEM de Thermo Fisher Scientific para laboratorios de investigación de múltiples usuarios y nos enfocamos en cómo estas soluciones de amplio rango brindan desempeño,versatilidad, dinámica in situ y tiempo de obtención de resultados más rápido. Mire este seminario web si está interesado en :
- Cómo se satisfacen las necesidades de las diferentes modalidades de microanálisis EDX, EBSD, WDS, CL, etc..
- Cómo se caracterizan las muestras en su estado natural sin necesidad de preparación de la muestra.
- Cómo la nueva automatización avanzada permite a los investigadores ahorrar tiempo y aumentar la productividad.
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- Cómo se caracterizan las muestras en su estado natural sin necesidad de preparación de la muestra.
- Cómo la nueva automatización avanzada permite a los investigadores ahorrar tiempo y aumentar la productividad.
Control de proceso mediante microscopía electrónica
La industria moderna exige un alto rendimiento con calidad superior, un equilibrio que se mantiene a través de un control de proceso sólido. Las herramientas SEM y TEM con software de automatización dedicado brindan información rápida y de múltiples escalas para el monitoreo y la mejora del proceso.
Control de calidad y análisis de fallas
El control y la garantía de calidad son esenciales en la industria moderna. Ofrecemos una gama de herramientas EM y de espectroscopia para el análisis multimodal y multiescala de defectos, lo que le permite tomar decisiones fiables e informadas para el control y la mejora del proceso.
Investigación de materiales fundamentales
Los materiales novedosos se investigan a escalas cada vez más pequeñas para lograr el máximo control de sus propiedades físicas y químicas. La microscopía electrónica proporciona a los investigadores información clave sobre una amplia variedad de características de los materiales en la escala micro a nano.
espectroscopia dispersiva de energía
La espectroscopia dispersiva de energía EDS recopila información elemental detallada junto con imágenes de microscopía electrónica, lo que proporciona un contexto de composición crítico para las observaciones EM. Con EDS, la composición química se puede determinar a partir de exploraciones de superficie rápidas y holísticas hasta átomos individuales.
Análisis elemental EDS
EDS proporciona información de composición vital para las observaciones del microscopio electrónico. En particular, nuestros exclusivos sistemas de detección Super-X y Dual-X agregan opciones para mejorar el rendimiento y / o la sensibilidad, lo que le permite optimizar la adquisición de datos para cumplir con sus prioridades de investigación.
Tomografía 3D EDS
La investigación de materiales moderna depende cada vez más del análisis a nanoescala en tres dimensiones. La caracterización 3D, incluidos los datos de composición para el contexto químico y estructural completo, es posible con la espectroscopia de rayos X 3D EM y de dispersión de energía.
Mapeo elemental a escala atómica con EDS
La EDS de resolución atómica proporciona un contexto químico incomparable para el análisis de materiales al diferenciar la identidad elemental de los átomos individuales. Cuando se combina con TEM de alta resolución, es posible observar la organización precisa de los átomos en una muestra.
Muestras calientes de imágenes
Estudiar materiales en condiciones del mundo real a menudo implica trabajar a altas temperaturas. El comportamiento de los materiales a medida que se recristalizan, funden, deforman o reaccionan en presencia de calor se puede estudiar in situ con microscopía electrónica de barrido o herramientas DualBeam.
in situ experimentación
La observación directa y en tiempo real de los cambios microestructurales con microscopía electrónica es necesaria para comprender los principios subyacentes de los procesos dinámicos como la recristalización, el crecimiento de granos y la transformación de fase durante el calentamiento, enfriamiento y humectación.
análisis multiescala
Los materiales novedosos deben analizarse con una resolución cada vez mayor, conservando el contexto más amplio de la muestra. El análisis multiescala permite la correlación de varias herramientas y modalidades de imágenes, como microCT de rayos X, DualBeam, Laser PFIB, SEM y TEM.
espectroscopia dispersiva de energía
La espectroscopia dispersiva de energía EDS recopila información elemental detallada junto con imágenes de microscopía electrónica, lo que proporciona un contexto de composición crítico para las observaciones EM. Con EDS, la composición química se puede determinar a partir de exploraciones de superficie rápidas y holísticas hasta átomos individuales.
Análisis elemental EDS
EDS proporciona información de composición vital para las observaciones del microscopio electrónico. En particular, nuestros exclusivos sistemas de detección Super-X y Dual-X agregan opciones para mejorar el rendimiento y / o la sensibilidad, lo que le permite optimizar la adquisición de datos para cumplir con sus prioridades de investigación.
Tomografía 3D EDS
La investigación de materiales moderna depende cada vez más del análisis a nanoescala en tres dimensiones. La caracterización 3D, incluidos los datos de composición para el contexto químico y estructural completo, es posible con la espectroscopia de rayos X 3D EM y de dispersión de energía.
Mapeo elemental a escala atómica con EDS
La EDS de resolución atómica proporciona un contexto químico incomparable para el análisis de materiales al diferenciar la identidad elemental de los átomos individuales. Cuando se combina con TEM de alta resolución, es posible observar la organización precisa de los átomos en una muestra.
Muestras calientes de imágenes
Estudiar materiales en condiciones del mundo real a menudo implica trabajar a altas temperaturas. El comportamiento de los materiales a medida que se recristalizan, funden, deforman o reaccionan en presencia de calor se puede estudiar in situ con microscopía electrónica de barrido o herramientas DualBeam.
in situ experimentación
La observación directa y en tiempo real de los cambios microestructurales con microscopía electrónica es necesaria para comprender los principios subyacentes de los procesos dinámicos como la recristalización, el crecimiento de granos y la transformación de fase durante el calentamiento, enfriamiento y humectación.
análisis multiescala
Los materiales novedosos deben analizarse con una resolución cada vez mayor, manteniendo el contexto más amplio de la muestra. El análisis multiescala permite la correlación de varias herramientas y modalidades de imagen, como microCT de rayos X, DualBeam, Laser PFIB, SEM y TEM.
Servicios de microscopía electrónica para
la ciencia de los materiales
Para garantizar un rendimiento óptimo del sistema, le brindamos acceso a una red de clase mundial de expertos en servicio de campo, soporte técnico y repuestos certificados.